1. 位错：该介孔单晶的每个晶面都可以归属为{110}面,透射电子显微镜(Transmission electron micrographs, TEM)证实介孔晶格在整个晶面上规则排列(沿[110]方向),没有观察到明显的位错(dislocations),层错(fault planes)或孪晶(twinning)现象,

2. 变位：dislocation metamorphism 断错变质 | dislocations 变位 | dispersant 分散剂

2. dislocations的解释